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■ 测试频率：20Hz-1MHz，分辨率：最高1mHz
■ 基本精度：0.05%
■ 测试速度：最快32ms/次
■ 测试原理：自动平衡电桥
■ 高功率：信号源：20V/100mA（可选）
DC偏置：±40V/100mA（可选）
外部DC BIAS偏置最大可达40A
■ 30 Ω，100 Ω可选信号源输出阻抗
■ 四端对端口配置有效消除测试线电磁耦合
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 10点列表扫描测试功能
■ 图形化扫描分析功能
■ 10档分选功能，分选结果声光报警
■ 存储空间:内置20组设定文件，USB扩展数据记录文件、图片
文件
■ 高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHT E4980A、
HP4284A等
■ 无源元件
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：
■ 液晶单元
介电常数、弹性常数等C-V特性
测试参数 | |Z|,|Y|,C,L,X,B,R,G,D,Q,θ,ESR,Rp | |
测试频率 | 20Hz-1MHz,1mHz分辨率 | |
测试电平范围 | 正常：5mV-2V,恒电平：10mV-1V,1mV 步进 | |
输出阻抗 | 30Ω，100Ω可选 | |
基本准确度 | 0.05% | |
显示范围
| |Z|,R,X | 0.00001Ω-99.9999MΩ |
|Y|,G,B | 0.00001μS-99.9999S | |
C | 0.00001pF-9.99999F | |
L | 0.00001μH-99.9999kH | |
D | 0.00001-9.99999 | |
Q | 0.01-99999.9 | |
θ(DEG) | -179.999°-179.999° | |
θ(RAD) | -3.14159-3.14159 | |
△% | -999.999%-999.999% | |
测量时间（≥1kHz） | 快速：32ms, 中速：90ms, 慢速：650ms | |
等效电路 | 串联，并联 | |
量程方式 | 自动，保持 | |
触发方式 | 内部，手动，外部,总线 | |
平均次数 | 1-255 | |
清零功能 | 开路，短路，扫频清零，负载 | |
内部直流偏置源 | 0V,1.5V,2V | |
比较器功能 | 10档分选和档计数功能 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
接口 | RS-232C、HANDLER(选件)、USB(选件)、GPIB | |
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