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HIOKI,磁场测试仪 FT3470-51
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商品名称:HIOKI,磁场测试仪 FT3470-51
商品编号:HIOKI_FT3470-51
店铺:网站自营
封装形式:台式

更多参数>>

CE USB ICNIRP 3year
     

适用于3轴的磁通密度测量

● 适用于以ICNIRP2010准则为基础的评估试验
● 符合IEC62110/IEEE 644以及EN62233标准
● 标配符合IEC/EN62233的100cm2的磁场传感器
● 显示单位可选(T,A/m,G)
● 操作简单,轻松测量
● 标配PC应用软件
● 可以用于无线充电评价系统TS2400

磁场测试仪的校正可在日本国内进行

磁场测试仪的校正可在日本国内进行

JIS C 1910推荐使用进行过校正,可溯源的测试仪来进行测量。
HIOKI拥有NIST(美国国家标准与技术研究院)的可溯源的校正设备,可在国内进行校正。根据客户的要求,可再磁场测试仪购买时或购买后进行校正时,有偿提供检查成绩表、校正证明书、可溯源体系图。关于校正详情请向最近的HIOKI营业所垂询。

可分别显示3轴(X,Y,Z)磁场各自的值

可分别显示3轴(X,Y,Z)磁场各自的值

电流流过的物体周围产生的空间称为“磁场”。磁场存在方向,根据方向,测量值不同。需要测量3轴全部。FT3470-50系列能够同时测量3轴并求出合成值(R),从而做到准确的测量。

可选的磁通密度单位

可选的磁通密度单位

根据标准和规定的不同,支持显示T(特斯拉)、A/m (安培/米)、G (高斯)之类不同的磁通密度的单位。

磁通密度的合成有效值电平、暴露电平的模拟输出功能(仅限FT3470-51,FT3470-52)

磁通密度的合成有效值电平、暴露电平的模拟输出功能(仅限FT3470-51,FT3470-52)

与存储记录仪或数据采集仪连接,可记录磁通密度的有效值。便于长期的观测。输出率为0.1 mV/显示值(以磁通密度单位T为基准)

磁通密度(T)的X,Y,Z各轴的波形输出功能(仅限FT3470-51,FT3470-52)

磁通密度(T)的X,Y,Z各轴的波形输出功能(仅限FT3470-51,FT3470-52)

连接示波器或存储记录仪,可观测磁场的波形。输出率为0.1 mV/显示值(以磁通密度单位T为基准)

磁通密度(带宽) 10 Hz~400 kHz/ 10 Hz~2 kHz/ 2 kHz~400 kHz
曝露等级 一般/专业
显示 X/Y/Z单轴(2000点),复合真有效值R(3464点),磁通密度(单位:T,G,A/m),曝露等级(单位:%)
磁通密度
量程,精度
[X/Y/Z轴]有效测量范围:2.000 μT~2.000 mT,4档量程
精度:±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
[R轴]有效测量范围:3.464 μT~3.464 mT, 4档量程
精度:±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
[有效测量频率范围] 10Hz-400kHz模式时: 50Hz~100kHz
10Hz-2kHz模式时: 50Hz~1kHz
2kHz-400kHz模式时: 5kHz~100kHz

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